當前位置:上海天普分析儀器有限公司>>分光光度計>> UV757CRT紫外可見分光光度計
UV757CRT紫外可見分光光度計主要特點
采用微機測量系統(tǒng),T-A轉(zhuǎn)換,自動調(diào)整“0”和調(diào)整“100”,具有GOTOλ,時間掃描,自動8聯(lián)樣品架,自動扣除比色皿誤差,濃度多點標定,斜率和載距設(shè)置等動能,具有RS232借口和并行打印機口(打印機,另行選配)。
聯(lián)機功能:通過RS-232串行接口,可利用上層軟件作全波長掃描,時間掃描,濃度回歸方程(1次、2次、3次),多波長測試,并大大擴展測試功能(除主機功能外)。
UV757CRT紫外可見分光光度計產(chǎn)品參數(shù)
波長: 范圍:200nm-1000nm
度:±0.5nm
重復(fù)性:≤0.2nm
光譜帶寬:2nm
透射比: 度:±0.5% τ
重復(fù)性:≤0.2% τ
范圍:0.0%τ-200.0%τ
雜散光: ≤0.3%τ(在220nm和340nm處)
吸光度: -0.301%τ-4.000A
穩(wěn)定性: ≤0.004A/30min
功率和電源:50Hz±1Hz/AC220V±22V